產(chǎn)品詳情
全自動(dòng)衍射采集分析系統(tǒng)（Temassist），是電子顯微鏡衍射自動(dòng)成像和分析系統(tǒng)一種創(chuàng)新型設(shè)備。它將旋轉(zhuǎn)電子衍射自動(dòng)數(shù)據(jù)采集及分析系統(tǒng)和快速晶體學(xué)單胞確定輔助程序結(jié)合起來(lái)，實(shí)現(xiàn)了衍射強(qiáng)度的定量計(jì)算、衍射點(diǎn)形狀的三維重構(gòu)以及衍射譜圖的自動(dòng)分析，解決了納米尺寸晶體結(jié)構(gòu)的表征難題，應(yīng)用于非晶體材料，富缺陷材料，有機(jī)材料，以及生物材料的結(jié)構(gòu)表征等相關(guān)領(lǐng)域。
該系統(tǒng)中通過(guò)對(duì)測(cè)角臺(tái)、電子束的程序控制和動(dòng)態(tài)錄像系統(tǒng)的聯(lián)合應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)了透射電子顯微鏡和CCD相機(jī)的程序一體化的設(shè)計(jì)；采用三維斷層重構(gòu)、完全自動(dòng)化的數(shù)據(jù)快速采集、以及配套的后處理軟件，滿(mǎn)足了晶體學(xué)單胞及衍射系統(tǒng)消光規(guī)律自動(dòng)分析。廣泛應(yīng)用于礦物、藥物晶體及各類(lèi)材料的快速物相分析，新結(jié)晶材料的晶體學(xué)單胞鑒定。
技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)
a) 電子顯微鏡的樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn)進(jìn)行精確控制，最小步長(zhǎng)達(dá)到0.1°，比一般的樣品臺(tái)精度提高近10倍；
b) 采用樣品臺(tái)運(yùn)動(dòng)漂移校正技術(shù)，將樣品在旋轉(zhuǎn)過(guò)程產(chǎn)生的漂移誤差校正，提供采集的衍射數(shù)值的精確度；
c) 采用高速CCD數(shù)碼相機(jī)，盡量減少樣品漂移和輻照時(shí)間，提高了衍射數(shù)值的準(zhǔn)確度；
d) 精確控制電子束的位置，電子束定位精度為50nm內(nèi)；
e) 完全集成了電子顯微鏡電子束旋轉(zhuǎn)，樣品臺(tái)和CCD的數(shù)值采集，做到一體化的系統(tǒng)，大大減少電子束和樣品位置不一致的問(wèn)題，也避免了衍射數(shù)值采集和樣品真實(shí)位置之間的誤差；
f) 我們的全自動(dòng)衍射采集分析系統(tǒng)（Temassist）不僅可以自動(dòng)收集并快捷計(jì)算較為準(zhǔn)確的單胞數(shù)據(jù)，且可 以與用戶(hù)3D衍射點(diǎn)形狀數(shù)據(jù)，將可以極大地滿(mǎn)足缺陷結(jié)構(gòu)分析的需要，是新一代的產(chǎn)品。
g) 由于衍射重構(gòu)需要大量的衍射圖像采集，電子束照射樣品的時(shí)間會(huì)比較長(zhǎng)，盡量減少電子輻照對(duì)樣品的 損傷和污染，是一大關(guān)鍵之處。我們采用自動(dòng)控制電鏡快門(mén)的程序，將在數(shù)據(jù)收集過(guò)程中盡量減少電子束與樣品的非有效接觸時(shí)間，以得到高質(zhì)量的原始衍射數(shù)據(jù)采集。
h) 同時(shí)我們對(duì)目前電子衍射三維斷層重構(gòu)技術(shù)進(jìn)行了改進(jìn)，發(fā)展了一種更為科學(xué)的電子衍射數(shù)據(jù)采集方法：旋轉(zhuǎn)電子衍射法。這一方法的設(shè)計(jì)完全結(jié)合了單晶X射線(xiàn)衍射的基本思想，較Kolb等發(fā)展的電子衍射數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)具有更合理的設(shè)計(jì)，可以用小至0.01°的步長(zhǎng)精確傾轉(zhuǎn)樣品，并一次收集上千張電子衍射譜圖。這種先進(jìn)技術(shù)的研究成功使我們的產(chǎn)品成為了先進(jìn)產(chǎn)品。
全自動(dòng)衍射采集分析系統(tǒng)組成部分
一、半自動(dòng)采集系統(tǒng)（Simple-EDT）：
基本的半自動(dòng)采集系統(tǒng)，在采集衍射圖像時(shí)，電子束是固定的，樣品沿著垂直于電子束的軸旋轉(zhuǎn)；在此過(guò)程中除了垂直于電子束的軸方向的數(shù)據(jù)采集是缺失的，其它所有的三維衍射數(shù)據(jù)都被完整的收集，缺失的部分?jǐn)?shù)據(jù)可以通過(guò)安裝在另一方向的同一個(gè)或另一個(gè)樣品收集起來(lái)。
二、納米旋轉(zhuǎn)電子衍射采集系統(tǒng)（Nano-RED）
它是特別針對(duì)于納米級(jí)別晶體的三維衍射數(shù)據(jù)的采集而設(shè)計(jì)的，是一個(gè)全自動(dòng)電子衍射數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。在數(shù)據(jù)采集過(guò)程中，電子束和樣品臺(tái)可以自動(dòng)跟蹤和校正樣品的位置，將位置精確控制在50nm范圍內(nèi)采集單晶的衍射圖，直徑大于10 nm的納米尺寸晶體均可用于測(cè)量。
三、旋進(jìn)電子衍射（Digital-Precession）
將電子束沿光軸旋轉(zhuǎn)360度，得到完整的電子衍射圖。
四、數(shù)據(jù)分析處理系統(tǒng)（Analazer）
3D電子衍射重構(gòu)和晶體結(jié)構(gòu)分析：?jiǎn)伟_定、空間群確定、單個(gè)晶面的獲得。
應(yīng)用實(shí)例
